发明名称 |
APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING SURFACE DEFECTS |
摘要 |
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申请公布号 |
EP0917649(B1) |
申请公布日期 |
2005.01.19 |
申请号 |
EP19970935399 |
申请日期 |
1997.08.08 |
申请人 |
CENTRE DE RECHERCHE INDUSTRIELLE DU QUEBEC |
发明人 |
GAUTHIER, PIERRE |
分类号 |
G01N33/46;G01N21/898;(IPC1-7):G01N21/89 |
主分类号 |
G01N33/46 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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