发明名称 使半导体沉积层平整的方法
摘要 本发明涉及一种使半导体沉积层平整的方法,首先,提供一基材;接着,用高密度等离子化学气相沉积法在基材上形成一半导体沉积层;然后,用溅射蚀刻法处理上述半导体沉积层表面;接着,用化学机械研磨法使上述半导体沉积层表面平整。本方法用溅射蚀刻处理半导体沉积层表面,可以提高化学机械研磨机研磨上述半导体沉积层的研磨效率。
申请公布号 CN1567540A 申请公布日期 2005.01.19
申请号 CN03148401.8 申请日期 2003.06.27
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 林经祥;廖振伟;杨云祺;洪永泰;陈俊甫
分类号 H01L21/302;H01L21/31 主分类号 H01L21/302
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波;杨梧
主权项 1.一种使半导体沉积层平整的方法,至少包括下述步骤:提供一基材;用高密度等离子化学气相沉积法(high density plasma chemical vapordeposition,HDP CVD)在上述基材上形成一半导体沉积层;用溅射蚀刻法(sputter etching)处理上述半导体沉积层表面;以及用化学机械研磨法(chemical mechanical polishing,CMP)使半导体沉积层的表面平整。
地址 台湾省新竹科学工业园区