发明名称 | 使半导体沉积层平整的方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种使半导体沉积层平整的方法,首先,提供一基材;接着,用高密度等离子化学气相沉积法在基材上形成一半导体沉积层;然后,用溅射蚀刻法处理上述半导体沉积层表面;接着,用化学机械研磨法使上述半导体沉积层表面平整。本方法用溅射蚀刻处理半导体沉积层表面,可以提高化学机械研磨机研磨上述半导体沉积层的研磨效率。 | ||
申请公布号 | CN1567540A | 申请公布日期 | 2005.01.19 |
申请号 | CN03148401.8 | 申请日期 | 2003.06.27 |
申请人 | 旺宏电子股份有限公司 | 发明人 | 林经祥;廖振伟;杨云祺;洪永泰;陈俊甫 |
分类号 | H01L21/302;H01L21/31 | 主分类号 | H01L21/302 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 陶凤波;杨梧 |
主权项 | 1.一种使半导体沉积层平整的方法,至少包括下述步骤:提供一基材;用高密度等离子化学气相沉积法(high density plasma chemical vapordeposition,HDP CVD)在上述基材上形成一半导体沉积层;用溅射蚀刻法(sputter etching)处理上述半导体沉积层表面;以及用化学机械研磨法(chemical mechanical polishing,CMP)使半导体沉积层的表面平整。 | ||
地址 | 台湾省新竹科学工业园区 |