| 发明名称 | 液晶胞面板的污染检测方法及其取样工具 | ||
| 摘要 | 一种液晶胞面板的污染检测方法，包括以下步骤：(a)提供液晶胞面板；(b)利用取样工具从液晶胞面板表面取得液晶样品；(c)使用溶剂将液晶样品由取样工具上冲洗下来；(d)分析液晶样品的成分；以及(e)求出成分的浓度，以判断液晶胞面板是否被污染。 | ||
| 申请公布号 | CN1566919A | 申请公布日期 | 2005.01.19 |
| 申请号 | CN03148928.1 | 申请日期 | 2003.06.24 |
| 申请人 | 友达光电股份有限公司 | 发明人 | 黄教忠 |
| 分类号 | G01N1/28;G01N33/00;G02F1/13 | 主分类号 | G01N1/28 |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 贾静环;宋莉 |
| 主权项 | 1、一种液晶胞面板的污染检测方法，包括以下步骤：(a)提供液晶胞面板；(b)利用取样工具从该液晶胞面板表面取得液晶样品；(c)使用溶剂将该液晶样品由该取样工具上冲洗下来；(d)分析该液晶样品的成分；以及(e)求出该成分的浓度，以判断该液晶胞面板是否被污染。 | ||
| 地址 | 台湾省新竹市 | ||