发明名称 | 高记录密度光学记录媒体的读取方法 | ||
摘要 | 本发明是关于一种高记录密度光学记录媒体的读取方法,其中该光学记录媒体至少包含:一基板;一第一介电层,设于基板上;一记录层,设于第一介电层上;一第二介电层,设于记录层上;一反射层,于第二介电层上;及当读取资料,光源读取功率、波长、数值孔径带入公式Pr/(λ/NA)其值介于1.15到8mW/um间时,在光学记录媒体上小于光学系统解析极限之下的记录点可被测得记录讯号。该光学记录媒体的记录层材料为含有金属材料的薄膜时,当记录资料小于解析极限的规范,可用满足公式Pr/(λ/NA),(Pr:读取功率,λ:光波长,NA:物镜的数值孔径)其值介于1.15到8mW/um间的读取功率Pr,读取出小于光学系统的解析极限(Resolving limit)下的记录点讯号,而可增加光学记录媒体储存密度。 | ||
申请公布号 | CN1567442A | 申请公布日期 | 2005.01.19 |
申请号 | CN03146307.X | 申请日期 | 2003.07.08 |
申请人 | 铼德科技股份有限公司 | 发明人 | 张勋豪;陈炳茂 |
分类号 | G11B7/005;G11B7/24 | 主分类号 | G11B7/005 |
代理机构 | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 寿宁;张华辉 |
主权项 | 1、一种高记录密度光学记录媒体的读取方法,其特征在于其中该光学记录媒体至少包含:一基板;一第一介电层,设置于该基板上;一记录层,设置于该第一介电层上;一第二介电层,设置于该记录层上;一反射层,于该第二介电层上;及当读取资料,光源读取功率、波长、数值孔径带入公式Pr/(λ/NA)其值介于1.15到8mW/um间时,在该光学记录媒体上小于光学系统解析极限之下的记录点,可被测得记录讯号。 | ||
地址 | 中国台湾 |