发明名称 |
基于位平面的不等长的量化/反量化方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于位平面的不等长的量化/反量化方法,首先依据预先定义,对量化/反量化前的系数按照其重要性,依照由高到低的顺序依次从小到大编号;再根据微调参数,将量化/反量化前的系数划分为重要和不重要两组系数;根据该两组量化/反量化前的系数以及粗调参数,分别计算得到各自对应的量化/反量化后的系数。本发明的量化/反量化方法对于重要系数,量化/反量化的步长短,对于不重要系数,则使用长的量化/反量化步长;同时,量化/反量化的步长都是2的幂次,并在给定微调参数和粗调参数后,量化/反量化的步长只分成两个等级。本发明在量化/反量化过程中,不使用乘法,而只使用移位运算就可以实现,有利于硬件设计,并且实现简单。 |
申请公布号 |
CN1568010A |
申请公布日期 |
2005.01.19 |
申请号 |
CN03148032.2 |
申请日期 |
2003.06.27 |
申请人 |
中国科学院计算技术研究所 |
发明人 |
高文;范晓鹏;吕岩 |
分类号 |
H04N7/26;H04N5/14;H04N11/02 |
主分类号 |
H04N7/26 |
代理机构 |
北京同立钧成知识产权代理有限公司 |
代理人 |
刘芳;刘薇 |
主权项 |
1、一种基于位平面的不等长的量化方法,其特征在于:该方法进行量化的步骤是:步骤100:依据预先定义的重要性,对量化前的系数按照其重要性,依照由高到低的顺序依次从小到大编号;步骤110:根据微调参数,将量化前的系数划分为重要和不重要两组系数;步骤120:根据该两组量化前的系数,以及粗调参数,分别计算得到各自对应的量化后的系数。 |
地址 |
100085北京市海淀区中关村科学院南路6号中科院计算所数字化室(物理所) |