发明名称 基于位平面的不等长的量化/反量化方法
摘要 本发明公开了一种基于位平面的不等长的量化/反量化方法,首先依据预先定义,对量化/反量化前的系数按照其重要性,依照由高到低的顺序依次从小到大编号;再根据微调参数,将量化/反量化前的系数划分为重要和不重要两组系数;根据该两组量化/反量化前的系数以及粗调参数,分别计算得到各自对应的量化/反量化后的系数。本发明的量化/反量化方法对于重要系数,量化/反量化的步长短,对于不重要系数,则使用长的量化/反量化步长;同时,量化/反量化的步长都是2的幂次,并在给定微调参数和粗调参数后,量化/反量化的步长只分成两个等级。本发明在量化/反量化过程中,不使用乘法,而只使用移位运算就可以实现,有利于硬件设计,并且实现简单。
申请公布号 CN1568010A 申请公布日期 2005.01.19
申请号 CN03148032.2 申请日期 2003.06.27
申请人 中国科学院计算技术研究所 发明人 高文;范晓鹏;吕岩
分类号 H04N7/26;H04N5/14;H04N11/02 主分类号 H04N7/26
代理机构 北京同立钧成知识产权代理有限公司 代理人 刘芳;刘薇
主权项 1、一种基于位平面的不等长的量化方法,其特征在于:该方法进行量化的步骤是:步骤100:依据预先定义的重要性,对量化前的系数按照其重要性,依照由高到低的顺序依次从小到大编号;步骤110:根据微调参数,将量化前的系数划分为重要和不重要两组系数;步骤120:根据该两组量化前的系数,以及粗调参数,分别计算得到各自对应的量化后的系数。
地址 100085北京市海淀区中关村科学院南路6号中科院计算所数字化室(物理所)