首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Testing apparatus
摘要
申请公布号 EP0752588(B1) 申请公布日期 2005.01.19
申请号 EP19960110892 申请日期 1996.07.05
申请人 TOKYO ELECTRON LIMITED 发明人 OBIKANE, TADASHI;HAYASHI, EIJI;KOSHI, RYOICHIRO
分类号 G01R1/067;G01R31/28;(IPC1-7):G01R1/067;G01R31/316 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com