发明名称 SQUEEZE-TEST METHOD OF A HARD DISK DRIVE, PARTICULARLY RELATED TO INCREASING THE RELIABILITY OF A TEST BY IMPROVING INSTANT INSTABILITY OF A SERVO
摘要
申请公布号 KR100468701(B1) 申请公布日期 2005.01.20
申请号 KR19970077819 申请日期 1997.12.30
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 SON, BYEONG GUK
分类号 G11B5/455;(IPC1-7):G11B5/455 主分类号 G11B5/455
代理机构 代理人
主权项
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