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发明名称
半导体装置及其制造方法
摘要
本发明藉由提高互相连接之氢障壁膜彼此之密接性,以便防止氢进入电容绝缘膜。本发明之半导体装置具备:第一氢障壁膜;电容元件,其系形成于第一氢障壁膜上者;及第二氢障壁膜,其系以覆盖电容元件之方式形成者。第一氢障壁膜及第二氢障壁膜至少包含1个使第一氢障壁膜及第二氢障壁膜密接之同一种原子。
申请公布号
TW200503246
申请公布日期
2005.01.16
申请号
TW093112535
申请日期
2004.05.04
申请人
松下电器产业股份有限公司
发明人
三河巧;十代勇治;久都内知惠
分类号
H01L27/108
主分类号
H01L27/108
代理机构
代理人
陈长文
主权项
地址
日本
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