发明名称 高纯度磷酸及其制造方法
摘要 本发明之高纯度磷酸,其特征在于:作为在H3PO4之浓度换算成为85重量%时之不纯物含量,系Sb成为200ppb以下并且硫化物离子成为200ppb以下。本发明之高纯度磷酸系有用于成为:具有氮化矽膜之半导体元件之蚀刻液、具有氧化铝膜之液晶显示器面板之蚀刻液、金属铝蚀刻液、陶瓷用氧化铝蚀刻液、光纤玻璃用磷酸玻璃原料以及食品添加物等。
申请公布号 TW200502163 申请公布日期 2005.01.16
申请号 TW093119492 申请日期 2004.06.30
申请人 化学工业股份有限公司 发明人 石川贤一;横井敬三;竹内宏介;栗田裕;内山平二
分类号 C01B25/18 主分类号 C01B25/18
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本