发明名称 | 连接单元、测试头以及测试装置 | ||
摘要 | 一种连接单元,适用于电性连接性能板与测试控制部。性能板载置着电子元件,测试控制部生成控制电子元件之测试的测试信号。连接单元包括:基板收容部,收容与测试控制部电性连接的测试基板、维持构件,以可更换固定位置的方式固定至基板收容部中之多个不同的固定位置中的任意固定位置,并将测试基板对应此固定位置而维持在预定的维持位置、以及连接缆线,一端与被维持在维持位置的测试基板相连接,另端与性能板相连接。 | ||
申请公布号 | TW200502560 | 申请公布日期 | 2005.01.16 |
申请号 | TW093109183 | 申请日期 | 2004.04.02 |
申请人 | 爱德万测试股份有限公司 | 发明人 | 涉谷敦章;星野正史 |
分类号 | G01R31/28 | 主分类号 | G01R31/28 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |