发明名称 浅沟道隔离(STI)处理之双衬垫氧化物制程
摘要 一种浅沟道隔离处理之双衬垫氧化物之制程,包含在一矽基底上沉积形成氧化矽层和氮化矽层,而后蚀刻以形成一浅沟道;沉积第一衬垫氧化物在该浅沟道表面;以H3PO4蚀回氮化物层;以湿蚀刻移除第一衬垫氧化物;和再沉积第二衬垫氧化物在该浅沟道表面。
申请公布号 TW200503158 申请公布日期 2005.01.16
申请号 TW092119063 申请日期 2003.07.11
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 SEMICONDUCTORMANUFACTURING INTERNATIONAL (SHANGHAI) CORP. 中国 发明人 尹德源
分类号 H01L21/764 主分类号 H01L21/764
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 中国