发明名称 Verfahren zur elektrischen und mechanischen Verbindung zweier Leiterplatten
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur elektrischen und mechanischen Verbindung einer ersten Leiterplatte (PCB) mit einer in einem Abstand zur ersten Leiterplatte (PCB) koplanar angeordneten zweiten Leiterplatte (SUB) mittels einer mehrere Stifte (P) aufweisenden Stiftleiste (ST). Es erfolgt eine Durchführung der Stifte (P) in Durchkontaktierungen (TH) der zweiten Leiterplatte (SUB), wobei die Durchkontaktierungen (TH) einen Querschnitt aufweisen, der eine Bewegung der durchgeführten Stifte (P) senkrecht zur Ebene der Leiterplatten (PCB, SUB) gewährleistet. Anschließend erfolgt eine Positionierung der für eine Oberflächenmontage geformten Stiftenden (SMT) der Stiftleiste (ST) an vorgesehenen Stellen der ersten Leiterplatte (PCB), worauf schließlich eine Montage der Stiftleiste (ST) auf der ersten und der zweiten Leiterplatte (PCB, SUB) mittels eines Lötvorgangs, vorzugsweise in einer Aufschmelztechnik, erfolgt.
申请公布号 DE10313622(B3) 申请公布日期 2005.01.13
申请号 DE2003113622 申请日期 2003.03.26
申请人 SIEMENS AG 发明人 KRUEGER, MARIO;WACKER, FRANZ;PAUL, REINHOLD
分类号 H05K3/34;H05K3/36;(IPC1-7):H05K3/36 主分类号 H05K3/34
代理机构 代理人
主权项
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