| 发明名称 | 半导体集成电路和标准单元配置设计方法 | ||
| 摘要 | 在单元阵列预定形成区域上边配置不具有接触图形的多个第1标准单元，和具有第1接触图形的第2标准单元。在第1标准单元的彼此间追加配置第2接触图形。第2接触图形配置在电源供给能力不足的区域上。 | ||
| 申请公布号 | CN1184689C | 申请公布日期 | 2005.01.12 |
| 申请号 | CN02147073.1 | 申请日期 | 2002.10.29 |
| 申请人 | 株式会社东芝 | 发明人 | 坂本信介;山口明 |
| 分类号 | H01L27/06;H01L21/70 | 主分类号 | H01L27/06 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王永刚 |
| 主权项 | 1.一种半导体集成电路，包括：构成单元阵列的多个第1标准单元，各个第1标准单元不具有接触图形；与上述第1标准单元一起构成上述单元阵列的第2标准单元，上述第2标准单元具有第1接触图形；配置在上述单元阵列内的第2接触图形，上述第2接触图形的个数比上述第1标准单元的个数少。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||