发明名称 |
缺陷检测装置和缺陷检测方法 |
摘要 |
在由RF信号得到的检测最大值处于减少方向的情况下,把检测最大值减去所需相减值的相减结果值作为最大值,在由R F信号得到的检测最小值处于增加方向的情况下,把检测最小值加上所需相加值的相加结果值作为最小值,同时,通过从上述最大值减去上述最小值,来求出表示RF信号振幅电平的RF振幅值。 |
申请公布号 |
CN1565033A |
申请公布日期 |
2005.01.12 |
申请号 |
CN03801230.8 |
申请日期 |
2003.08.06 |
申请人 |
索尼株式会社 |
发明人 |
本田喜久 |
分类号 |
G11B20/18;G11B20/10;G11B7/005 |
主分类号 |
G11B20/18 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
刘宗杰;叶恺东 |
主权项 |
1.一种缺陷检测装置,其特征在于,具有:最大值检测单元,通过检测由对记录媒体的信号读出动作而得到的RF信号的最大值,得到检测最大值;最小值检测单元,通过检测上述RF信号的最小值,得到检测最小值;最大值输出单元,在由上述最大值检测单元得到的检测最大值处于减少方向的情况下,求出从该检测最大值减去所需的相减值的相减结果值,并把该相减结果值作为上述RF信号最大值来输出;最小值输出单元,在由上述最小值检测单元得到的检测最小值处于增加方向的情况下,求出从该检测最小值加上所需的相加值的相加结果值,并把该相加结果值作为上述RF信号最小值来输出;振幅电平算出单元,通过从由上述最大值输出单元输出的最大值中减去由上述最小值输出单元输出的最小值,算出表示上述RF信号振幅电平的RF振幅值;缺陷检测单元,通过把由上述振幅电平算出单元算出的RF振幅值与规定阈值进行比较,来实行缺陷状态检测;中心值算出单元,根据由上述最大值检测单元得到的检测最大值和由上述最小值检测单元得到的检测最小值,算出上述RF信号的振幅中心值;以及可变值设定单元,按照由上述中心值算出单元算出的上述中心值电平,可变设定在上述最大值输出单元中的上述相减值和上述最小值输出单元中的上述相加值。 |
地址 |
日本东京都 |