光学头的跟踪误差检测方法及光学头装置

摘要

来自光盘的反射光的一部分光入射至衍射元件(10)。来自该衍射元件(10)的±1级衍射光及0级衍射光通过柱面透镜(11)及聚焦透镜(12)，入射至光检测器(13)。这时，在物镜位移时，衍射元件(10)上的光束也位移，落在四分割受光元件(13a)的受光区(A、B、C、D)的0级衍射光的光点强度分布在整体上变亮，落在受光元件(13b、13c)的受光区(E、F)的±1级衍射光的光点强度分布在整体上变暗。这样，本发明将提供能够进行很好的跟踪控制的光学头的跟踪误差检测方法及光学头装置。

主权项

1.一种光学头的跟踪误差检测方法，在将光源(1)的光用物镜(4)聚焦在光盘(5)的表面上并利用来自所述光盘(5)的反射光检测跟踪误差信号的光学头的跟踪误差检测方法中，其特征在于，具有利用光量分配装置(10、14、21、101a-101b、102、110、118)使来自所述光盘的反射光入射至第1受光元件(13a、19a-19c、119a-119b、219a、319a)及第2受光元件(13b-13c、13d-13e、13f-13g、16、17(图15)、103、119c-119d、219b-219c、319b-319c)、并与所述物镜沿盘片径向的规定方向位移相对应地使入射至所述第1受光元件的光量增加同时使入射至所述第2受光元件的光量减少的步骤；以及根据所述第1受光元件地输出信号与所述第2受光元件的输出信号之差信号(SHFT)来修正推挽信号(PP)、得到跟踪误差信号(TES)的步骤。