| 主权项 |
1.一种光学式金属辨识装置,包含:一载台,用以承载一待测样品;一光源模组,可产生至少一窄频光;一透镜组,用以将该窄频光聚焦于该待测样品上;一光感测器,用以撷取该窄频光经该待测样品反射后之反射光强度;以及一处理单元,其根据该光感测器撷取之反射光强度辨识该待测样品所包含之金属种类。2.如申请专利范围第1项之光学式金属辨识装置,其中该光源模组可产生一第一窄频光及一第二窄频光,而该第一窄频光与该第二窄频光之中心波长不同。3.如申请专利范围第1项之光学式金属辨识装置,其中该光源模组系由一白光光源加上一适当滤光片构成,而该白光光源可为水银灯、卤素灯、金属卤素灯或氙气灯。4.如申请专利范围第1项之光学式金属辨识装置,其中该光源模组系一发光二极体。5.如申请专利范围第1项之光学式金属辨识装置,其中该光源模组系一雷射。6.如申请专利范围第1项之光学式金属辨识装置,其中该待测样品可为一包含铜及金之印刷电路板。7.如申请专利范围第6项之光学式金属辨识装置,其中该第一窄频光之中心波长可为400nm,而该第二窄频光之中心波长可为600nm。8.如申请专利范围第1项之光学式金属辨识装置,其中该透镜组可由一聚焦透镜组或一柱型透镜组构成。9.如申请专利范围第1项之光学式金属辨识装置,其中该光感测器可为一电荷耦合感测元件。10.如申请专利范围第1项之光学式金属辨识装置,其中该处理单元可包含一影像辨识软体。11.一种光学式金属辨识方法,包含下列步骤:以一第一入射角照射一第一窄频光于一待测样品上;撷取该第一窄频光于该第一入射角经该待测样品反射后之反射光强度;以及根据该第一窄频光的反射光强度辨识该待测样品所包含之金属种类。12.如申请专利范围第11项之光学式金属辨识方法,其另包含下列步骤:以一第二入射角照射该第一窄频光于该待测样品;撷取该第一窄频光于该第二入射角经该待测样品反射后之反射光强度;以及根据该第一窄频光于该第一入射角与该第二入射角之反射光强度之差値辨识该待测样品所包含之金属种类。13.如申请专利范围第11项之光学式金属辨识方法,其另包含下列步骤:以该第一入射角照射一第二窄频光于该待测样品上;撷取该第二窄频光于该第一入射角经该待测样品反射后之反射光强度;以及根据第一窄频光的反射光强度与该第二窄频光的反射光强度之差値辨识该待测样品所包含之金属种类。14.如申请专利范围第13项之光学式金属辨识方法,其中该第一窄频光之中心波长可为400nm,而该第二窄频光之中心波长可为600nm。15.如申请专利范围第11项之光学式金属辨识方法,其中该待测样品可为一包含铜及金之印刷电路板。图式简单说明:图1系本发明之光学式金属辨识装置之示意图;以及图2例示数种金属之反射率与波长的关系。 |
