| 主权项 |
1.一种用于运动纱线或类纱线纺织物结构的至少 一种属性之无感测量之的设备,包括在至少一列中 带多个彼此相邻排列的像素的光学线感测器,其特 征在于该光学线感测器(1)与用于处理和/或计算该 光学线感测器(1)信号的电子电路(3)的至少一部分 一起整合到一个半导体积体特殊ASIC电路(4)中并且 该用于处理和/或计算该光学线感测器信号的电子 电路(3)与该光学线感测器(1)整合到共享的半导体 晶片(2)上并且/或者位于共享的壳体(5)中。 2.如申请专利范围第1项之设备,其中,与该光学线 感测器(1)整合的用于处理和/或计算该光学线感测 器信号的所述电子电路(3)是用于在一次测量中完 整定义至少一种纱线属性的电子电路,其中该属性 选自包括纱线直径、每单位长度的重量及外部杂 质的群组。 3.如申请专利范围第2项之设备,其中,特征在于所 测量的属性是纱线直径。 4.如申请专利范围第1至第3项中任一项之设备,其 中,与该感测器(1)整合的用于处理和/或计算该整 合的光学线感测器信号的电子电路(3)具有通过资 料滙流排(6)以及相关计算处理器(7)互连的输入和/ 或输出。 5.如申请专利范围第2或第3项中任一项之设备,其 中,与该光学线感测器(1)整合的用于处理和/或计 算该光学线感测器信号的电子电路(3)包括用于与 控制和/或计算处理器(7)通信的通信模组。 6.如申请专利范围第5项之设备,其中,用于与该控 制和/或计算处理器(7)通信的通信模组与资料滙流 排模组(304)是共享的。 7.如申请专利范围第5项之设备,其中,与该光学线 感测器(1)整合的用于处理和/或计算该光学线感测 器信号的电子电路(3)包括依据有阴影像素个数计 算纱线直径的电路。 8.如申请专利范围第7项之设备,其中,依据有阴影 像素个数计算纱线直径的电路包括在每个测量周 期中决定纱线直径的装置。 9.如申请专利范围第7项之设备,其中,依据有阴影 像素个数计算纱线直径的电路包括决定纱线直径 平均値的装置。 10.如申请专利范围第9项之设备,其中,依据有阴影 像素个数计算纱线直径的电路包括用于在每个测 量周期中依据固定次数的测量决定纱线直径的装 置。 11.如申请专利范围第9项之设备,其中,依据有阴影 像素个数计算纱线直径的电路包括用于在每个测 量周期中依据可变次数的测量决定纱线直径的装 置。 12.如申请专利范围第9项之设备,其中,依据有阴影 像素个数计算纱线直径的电路包括连续地决定纱 线直径平均値的装置,该装置具有用于读取纱线直 径平均値的相关装置,在轮到这些相关装置时,这 些装置与用于决定纱线平均直径的装置的归零装 置耦合。 13.如申请专利范围第7项之设备,其中,纱线直径计 算电路包括用于在一个测量周期中监控不止一个 阴影的装置和用于选择至少最大阴影的装置。 14.如申请专利范围第1项之设备,其特征在于与该 光学线感测器(1)整合的用于处理和/或计算该光学 线感测器信号的电子电路(3)包括用于检测和计算 该光学线感测器(1)前面纱线位置的装置。 图式简单说明: 第1图是一种整合式ASIC特殊电路; 第2a图是在每个测量周期中用于决定纱线直径的 处理和/或计算光学线感测器信号的电子电路之实 施例的实例, 第2b图是由用于检测和计算光学线感测器前面的 纱线位置的设备完成的第2a图所示之设备; 第3图是在每个测量周期中用于检测纱线直径的处 理和/或计算光学线感测器信号的电子电路之实施 例的实例, 第4及第5图是用于决定纱线平均値的处理和/或计 算光学线感测器信号的电子电路之实施例的实例; 以及 第6图是该电子电路之实施例的一种实例,其中该 计算电路包括用于在一个测量周期中监控不止一 个阴影和用于选择至少最大阴影的装置。 |
