| 发明名称 |
Testvorrichtung für einen LSI-Prüfling, Jitteranalysator und Phasendifferenzdetektor |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE10392202(T5) |
申请公布日期 |
2005.01.05 |
| 申请号 |
DE20031092202T |
申请日期 |
2003.01.09 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO;KANTAKE, SHUUSUKE |
发明人 |
KANTAKE, SHUUSUKE |
| 分类号 |
G01R29/26;G01R31/317;G01R31/319;G01R31/3193;H04L1/20;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R29/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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