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发明名称 Menetelmä näytteen analysoimiseksi
摘要
申请公布号 FI20055007(A0) 申请公布日期 2005.01.05
申请号 FI20050005007 申请日期 2005.01.05
申请人 WALLAC OY, 发明人 KUUSISTO,ARI;SEVEUS,LAHJA
分类号 B01L3/00;G01N;G01N1/28;(IPC1-7):G01N 主分类号 B01L3/00
代理机构 代理人
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