发明名称 Method for forming a passivation layer for air gap formation
摘要
申请公布号 US6838354(B2) 申请公布日期 2005.01.04
申请号 US20020327403 申请日期 2002.12.20
申请人 FREESCALE SEMICONDUCTOR INC 发明人 GOLDBERG CINDY K;FILIPIAK STANLEY MICHAEL;FLAKE JOHN C;LII YEONG-JYH T;SMITH BRADLEY P;SOLOMENTSEV YURI E;SPARKS TERRY G;STROZEWSKI KIRK J;YU KATHLEEN C
分类号 H01L21/288;H01L21/768;(IPC1-7):H01L21/76 主分类号 H01L21/288
代理机构 代理人
主权项
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