发明名称 光阻下层膜材料及图型之形成方法
摘要 本发明之课题系提供多层光阻过程用,尤其是2层光阻过程用之光阻下层膜材料,尤其是相对于短波长之曝光,可作为优异防反射膜作用,亦即透明性高,具有最适n值,k值,而且基板加工中蚀刻耐性优异之光阻下层膜材料,以及使用该下层膜材料之微影术以在基板形成图形之方法。本发明之解决手段系,为微影术所用之多层光阻膜之光阻下层膜材料,其含有至少具有下述一般式(1)所示之重覆单元之聚合物为其特征之光阻下层膜材料。093115181-p01.bmp
申请公布号 TW200500799 申请公布日期 2005.01.01
申请号 TW093115181 申请日期 2004.05.27
申请人 信越化学工业股份有限公司 发明人 山润;加藤英人
分类号 G03F7/004 主分类号 G03F7/004
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本