发明名称 腐蚀性气体侦测器及其系统
摘要 本发明之腐蚀性气体侦测器包含至少一半导体元件及一电性侦测计。该半导体元件包含一晶圆基座及一设置于该晶圆基座上之一金属桥。该电性侦测计可为一电阻计或一安培计,其系电连接于该金属桥两端,用以测量该金属桥之电性之变化。该金属桥两端可设置两焊垫,以方便拉线连接该电性侦测计。该金属桥大多采用铝金属、铝–铜合金或铝–矽–铜合金,其宽度约介于0.5至2微米之间,高度则介于0.3至1微米之间。
申请公布号 TW200500603 申请公布日期 2005.01.01
申请号 TW092117257 申请日期 2003.06.25
申请人 天虹科技股份有限公司 发明人 丁圣义
分类号 G01N27/00 主分类号 G01N27/00
代理机构 代理人 王仲
主权项
地址 新竹县竹北市民权街五十三号七楼