发明名称 具有分区测光器之位元检测器
摘要 本发明揭露一种用以检测储存在一记录载体上的一通道资料流之位元的位元数值之位元检测器,其中该通道资料流包括沿一第一方向一维发展并且沿一第二方向相互对准的至少二位元列之一通道条带,该等二方向组成位元位置之一两维晶格。为了可观地改善2D储存之位元检测性能,建议使用一位元检测器,该检测器包括:–一测光器,用以检测从该记录载体反射的或透射穿过该记录载体的光以回应一或多个入射光束,各光束系沿该第二方向引导至一位置,该测光器系分割为至少二检测器分区,用以检测该反射的或透射的光之部分并且用以产生部分HF信号数值,以及–一信号处理构件,用以自该等部分HF信号数值决定该通道资料流之位元的位元数值。
申请公布号 TW200501061 申请公布日期 2005.01.01
申请号 TW092134693 申请日期 2003.12.09
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 威廉 马利 朱利亚 马赛 柯恩;MARCEL;亚伯特 亨卓克 詹 英明;伯纳杜 亨卓克斯 威海姆 亨卓克;HENDRIKUS WILHELMUS;亚洛西斯 迈可 约瑟夫斯 马利亚 史布鲁特;ALOYSIUS MICHAEL JOSEPHUS MARIA;马可斯 安卓烈 伯恩 华纳 波特;BERND WERNER
分类号 G11B20/00 主分类号 G11B20/00
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 荷兰