用于测试微电子电路的系统之改良的多重连接装置

摘要

本发明系关于一种改良的多重连接装置，其用于测试微电子电路的系统。该装置之特征在于，该装置包含：一接脚连接器1，包含一由一第一电性绝缘物质制成之片状物2及复数支接脚3；一电性分配连接器20，包括一由第二电性绝缘物质制成之板21，该第二物质之热膨胀系数系实质上相同于该第一物质之热膨胀系数；一印刷电路卡30；以及可弯曲电性连接机构40，用于使该第一连接终端25连接至该各别第二连接终端32。该装置系特别适用于测试微电子电路，例如一用于微电脑之电子晶片及小型光感电池。