| 主权项 |
1.一种测试用或接触用之探针结构,包含:一接触端针头单元,具有同心圆之双筒身,用以与待测物做接触或用以量测接触装置做连接;一终端针头单元,位于该接触端针头单元之相对端,用以与待测物做接触或用以量测接触装置做连接;以及一弹性单元,位于接触端针头单元及终端针头单元内,用以缓冲测试时探针压缩及提供弹力之用;其中该探针是以铸造方式制作。2.如申请专利范围第1项所述之测试用或接触用之探针结构,其中该接触端针头单元之同心圆之双筒身包含一接触端针头、一内筒结构、一外筒结构及一勾状物结构。3.如申请专利范围第2项所述之测试用或接触用之探针结构,其中该接触端针头单元之接触端针头形状可为柱型、锥型、伞型、尖凿型、锯齿型及其他可变化之形状。4.如申请专利范围第1项所述之测试用或接触用之探针结构,其中该终端针头单元具有一终端针头、一沟槽状结构之筒身及一沟槽筒身终点部份之突出物。5.如申请专利范围第4项所述之测试用或接触用之探针结构,其中该沟槽状结构可为2个以上。6.如申请专利范围第4项所述之测试用或接触用之探针结构,其中该突出物形状可为圆弧状、圆点状、柱状及其他可变化之形状。7.如申请专利范围第4项所述之测试用或接触用之探针结构,其中该终端针头单元之终端针头形状可为柱型、锥型、伞型、尖凿型、锯齿型及其他可变化之形状以适应各种不同之量测装置。8.如申请专利范围第1项所述之测试用或接触用之探针结构,其中该弹簧可为金属弹性导体或是具有导电性非金属材质之弹性物体,且于测试时缓冲探针压缩及提供弹力之用。9.如申请专利范围第1项所述之测试用或接触用之探针结构,其中该探针结构之材质可为磷青铜、黄铜、铍铜及其他铜合金、不锈钢、各种碳钢或是导电塑胶等基本素材之金属或塑胶流体。10.如申请专利范围第1项所述之测试用或接触用之探针结构,其中该探针在原素材上覆盖或镀以金属抗氧化、抗磨耗、高导电、低电阻等材料,如铑、金、钯、铂、铱等。11.如申请专利范围第10项所述之测试用或接触用之探针结构,其中该覆盖或镀以金属层之厚度,除可考量一般测试或接触用途外,更可进一步考量集肤效应,以降低其高频讯号上之阻抗値。12.如申请专利范围第10项所述之测试用或接触用之探针结构,其中该接触端针头单元及终端针头单元亦可以镀上钻石膜或立方氮化硼薄膜等超硬材料,以增加其耐磨性与硬度。图式简单说明:第1图为习用之测试用探针结构剖视图。第2图为根据本新型探针之结构剖视图。第3图为根据本新型探针之接触端针头单元结构剖视图。第4图为根据本新型探针之终端针头单元结构剖视图。 |
