发明名称 改良式单光束穿透率之线性阵列式CCD自动化分光光谱仪
摘要 提供一种改良式单光束穿透率之线性阵列式CCD自动化分光光谱仪,其系利用自行开发电脑程式软体,控制X轴Y轴移动大型样品到待测点,光纤、光纤转换平行光之转接头、大型样品架组合成穿透率待测区,结合改良式单光束穿透率线性阵列式CCD侦测器和光源,可于10毫秒(msec)时间左右,快速显示300-1100奈米(nm)全波段光谱图,适合大型滤光片,例如:未切割相机滤片,160公厘(mm)*160公厘(mm)见方,自动化快速测量50点穿透率,当确定50点穿透率品质,再进行切割小片滤片,例如:2公厘(mm)*2公厘(mm)见方,如果其中一区,穿透率品质不合格,则可以切除或者重新镀膜,达到大量生产之品质管理之目的。藉由自行开发软体3点锁定功能,以及对空气随时监测软体功能,全光谱之X轴是波长与Y轴是穿透率,保证波长与穿透率误差值小于百分之一,藉由空气监测值,可以查觉穿透率是否漂移,如果漂移,立即做3点锁定功能,与世界大厂如:HP,Varian,Perkin-Elmer, Hitachi,Shimadzu,Jascos之穿透率值相同,又改进世界大厂不能自动化检测,因为它们无法将大型样品放置仪器内部。
申请公布号 TWM254589 申请公布日期 2005.01.01
申请号 TW093201273 申请日期 2004.01.28
申请人 云阳科技有限公司 发明人 李德华
分类号 G01J3/00 主分类号 G01J3/00
代理机构 代理人
主权项 1.一种改良式单光束穿透率之线性阵列式CCD自动化分光光谱仪,其主要包括有:一线性阵列式分光光谱仪、一光源、一光纤、一光纤转换平行光之转接头、一X轴和自动马达控制器、一Y轴和自动马达控制器、一大型样品架支架、一大型样品架、一电脑和自行开发之电脑程式软体设定、一RS232通讯线及一通用串列滙流排(USB)通讯线,其特征在于:其中前述系大型样品架支架、大型样品架与线性阵列式分光光谱仪是分离设置,其间并以光纤、光纤转换平行光之转接头为光径,光纤可以直接导入大型样品架。2.如申请专利范围第1项之改良式单光来穿透率之线性阵列式CCD自动化分光光谱仪,其中在于:前述一X轴和自动马达控制器、一Y轴和自动马达控制器与前述线性阵列式分光光谱仪,亦系以一RS232通讯线及一通用串列滙流排(USB)通讯线与电脑和自行开发之电脑程式软体,做控制和资料传递。3.如申请专利范围第1项之改良式单光束穿透率之线性阵列式CCD自动化分光光谱仪,其中在于:电脑和自行开发之电脑程式软体,可以3点锁定功能,依据使用者提供之任何国际标准样品,于400-600奈米(nm)中,输入一个标准穿透率値,于1100奈米(nm)中,输入另一个标准穿透率値,于50%穿透率値对应波长数値,例如:645奈米(nm),与线性阵列式CCD分光光谱仪,做比较,如果波长数値不相同,可以由自行开发电脑程式软体修改,使得波长数値一致,达成3点锁定校正功能,与任何国际标准样品之穿透率値和波长数値相同。4.如申请专利范围第1项之改良式单光束穿透率之线性阵列式CCD自动化分光光谱仪,其中在于:电脑和自行开发之电脑程式软体,可以当没有待测物时,可以对空气做测量,当使用者发现空气测量値不同,代表单光束穿透率之线性阵列式CCD自动化分光光谱仪之穿透率已经漂移,提醒使用者必须重新校正系统。图式简单说明:第一图为本创作之构成之外观图。
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