发明名称 Selective control of test-access ports in integrated circuits
摘要
申请公布号 US2004267480(A1) 申请公布日期 2004.12.30
申请号 US20030612293 申请日期 2003.06.30
申请人 DAY DANIEL A 发明人 DAY DANIEL A
分类号 G01R31/3185;(IPC1-7):G06F19/00 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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