发明名称 低频噪声消除方法及相关的CMOS检测电路
摘要 预先设定人为偏移值。该人为偏移值大于检测对象信号“sig”。设置了一测量装置,测量该人为偏移值,以获得表示其大小的被测人为偏移值“a”,以及测量该检测对象信号“sig”和该人为偏移值之和,以获得表示该检测对象信号的大小和该人为偏移值的大小之和的被测信号值“b”。求被测信号值与被测人为偏移值的比值(b/a)。把求得的比值作为减小传感器输出中的噪声的噪声减小数据。
申请公布号 CN1182370C 申请公布日期 2004.12.29
申请号 CN99126323.5 申请日期 1999.10.28
申请人 株式会社电装 发明人 渡边高元;生田敏雄;远藤升
分类号 G01D3/036 主分类号 G01D3/036
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 王忠忠
主权项 1.消除具有正比于1/f和(1/f)n的噪声分量的低频噪声的低频噪声消除方法,这里的“f”表示噪声频率,n≥1,该方法可应用于具有用来变换检测对象信号的信号值的A/D变换装置的检测电路,其特征在于包括以下步骤:预先设定一人为偏移值,所述人为偏移值大于所述检测对象信号;利用所述A/D变换装置把所述人为偏移值变换为数字数据,以获得表示所述人为偏移值的大小的人为偏移数据;利用所述A/D变换装置把所述检测对象信号和所述人为偏移值之和变换为数字数据,以获得表示所述检测对象信号的大小和所述人为偏移值的大小之和的检测信号数据;求所述检测信号数据与所述人为偏移数据的比值;以及把所述比值作为减小传感器输出中的低频噪声的噪声减小信号数据(校正数据)。
地址 日本爱知县