发明名称 | 一种固体基质发光分析样品架 | ||
摘要 | 一种适用于荧光分光光度计固体表面发光分析的样品架,由基体1连接石英片夹2构成,所述的基体1是一个黄铜柱体,基体与石英片夹用螺丝3连接,分析样品时,用石英片4压紧样品,石英片4由石英片夹2固定。本实用新型的样品架,与普通的荧光分光光度计相配套,使用方便,成本低廉,很容易推广使用。 | ||
申请公布号 | CN2667492Y | 申请公布日期 | 2004.12.29 |
申请号 | CN200420001373.2 | 申请日期 | 2004.01.05 |
申请人 | 山西大学 | 发明人 | 王亚平;杨柳;董川 |
分类号 | G01N21/64 | 主分类号 | G01N21/64 |
代理机构 | 山西五维专利事务所有限公司 | 代理人 | 杨耀田 |
主权项 | 1、一种用于固体基质发光分析的样品架,其特征在于由基体(1)、石英片夹(2)和螺丝(3)构成,用螺丝(3)将石英片夹(2)紧固在基体(1)上。 | ||
地址 | 030006山西省太原市坞城路36号 |