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发明名称 METHODS AND APPARATUS FOR TESTING AND BURN-IN OF SEMICONDUCTOR DEVICES
摘要
申请公布号 SG107610(A1) 申请公布日期 2004.12.29
申请号 SG20020004962 申请日期 2002.08.16
申请人 MICRON TECHNOLOGY, INC. 发明人 TAY, WUU YEAN;TAN, YONG KIAN;CHIA, YONG POO;LOW, SIU WAF;BOON, SUAN JEUNG;GOH, SOON HUAT
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/02 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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