发明名称 Verfahren zur Fehleranalyse einer Halbleiterbaugruppe
摘要 Die Anzahl Fehlerbits wird in bezug auf jede Zeile und jede Spalte in einer Fehlerbitabbildung (9) gezählt, um jeweils die mittlere Anzahl von Fehlerbits in bezug auf die Zeilen und Spalten zu ermitteln. Eine Hälfte der mittleren Anzahl der Fehlerbits der Zeilen wird als ein Zeilengrenzwert definiert, und eine Hälfte der mittleren Anzahl der Fehlerbits der Spalten wird als ein Spaltengrenzwert definiert. Danach wird auf der Basis der jeweiligen Grenzwerte der Zeilen und Spalten die Anzahl Fehlerbits in Digitalform in bezug auf jede Zeile und jede Spalte umgewandelt. Die jeweiligen Mittelwerte der digitalisierten Anzahl von Fehlerbits in bezug auf Zeilen und Spalten werden berechnet, die als Mittelwerte von Zeilen bzw. Spalten bezeichnet werden. Es wird bestimmt, daß eine Halbleiterbaugruppe einen Blockfehler in einer Zeilenrichtung, einen Blockfehler in einer Spaltenrichtung oder einen beliebigen Blockfehler enthält.
申请公布号 DE102004002901(A1) 申请公布日期 2004.12.23
申请号 DE200410002901 申请日期 2004.01.20
申请人 RENESAS TECHNOLOGY CORP., TOKIO/TOKYO 发明人 OHTA, FUMIHITO
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;G11C29/44;G11C29/56;H01L21/66;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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