发明名称 Elektrische Quantifizierung einer Verkürzung eines Leitbahnendes
摘要 Die vorliegende Erfindung ermöglicht die Quantifizierung einer Verkürzung eines Leitbahnendes durch die Verwendung einer Struktur mehrfacher Leitpfade, wobei jeder Leitpfad an jedem Ende einen Leiter aufweisen kann und wobei jeder Leiter über einen separaten Kontakt mit den durch einen Polysiliziumleiter verbundenen Kontakten verbunden ist. Die Leiter können in bezug auf die Länge von Leitpfad zu Leitpfad um ein konstantes Inkrement variieren, ausgehend von einer Länge, die in einer wesentlichen Überlappung an den Kontakten resuliert, bis hin zu einer Länge, die in einem wesentlichen Versatz an den Kontakten resultiert. Widerstandsmessungen jedes Leitpfades können so lange durchgeführt werden, bis ein Wechsel entweder zu oder von einem "Offen" stattfindet. Dies ist der Punkt, von dem aus das LES unter Verwendung des konstanten Inkrements ermittelt werden kann.
申请公布号 DE102004017412(A1) 申请公布日期 2004.12.23
申请号 DE200410017412 申请日期 2004.04.08
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 WARNER, DENNIS JOHN
分类号 G06F17/50;H01L21/00;H01L21/3205;H01L21/66;H01L21/768;H01L23/544;(IPC1-7):H01L21/768 主分类号 G06F17/50
代理机构 代理人
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