发明名称 | 测量物体凸纹的方法和系统 | ||
摘要 | 本发明提供了一种用于测量物体凸纹的方法和系统。该系统包括用于对栅格进行投影的栅格投影装置,带有摄像机的图像获取设备以及计算机。提供与要测量的物体有共同元素的参照物体,该方法包括步骤:a)相对于摄像机和共同元素将栅格定位在三个不同的已知位置上;b)对于栅格的每一位置,将栅格投影到参照物体上,并且使用摄像机获取参照物体的图像以便产生对于摄像机上的每个像素有不同值的三个图像,以及c)使用相应像素的三个参照物体亮度值计算每个像素的参照物体相位。通过用要测量的物体代替参照物体来重复步骤a)、b)和c)。然后计算在每个像素上要测量的物体和参照物体之间的高度差,这是通过在对应像素上减去参照物体相位和物体相位来完成的。 | ||
申请公布号 | CN1181313C | 申请公布日期 | 2004.12.22 |
申请号 | CN00812901.0 | 申请日期 | 2000.07.14 |
申请人 | 索威森公司 | 发明人 | A·考奥贝;M·坎逖恩;A·尼克蒂恩 |
分类号 | G01B11/30;G01B21/30 | 主分类号 | G01B11/30 |
代理机构 | 北京市中咨律师事务所 | 代理人 | 于静;杨晓光 |
主权项 | 1.一种使用摄像机(46)测量物体(30)凸纹的方法,包括:a)在一个参照物体上投影栅格;该栅格(24)位于相对于该摄像机(46)和参照物体的一个第一位置;b)用该摄像机(46)拍摄一个包括至少一个被所述投影的栅格照射的参照物体像素的图像,并为该参照物体图像中该至少一个像素的每个存储它的亮度值;c)对于每次位于相对于该摄像机(46)和参照物体的不同的已知位置的栅格(24),重复步骤a)和b),以便对于该参照物体图像中该至少一个像素的每个获得至少三个亮度值;d)使用该参照物体的图像中的像素的三个参照物体有效亮度值,计算该参照物体图像中该至少一个像素的每一个的参照物体相位,其中这三个参照物体有效亮度值是在为该参照物体图像中该至少一个像素的每个获得的该至少三个亮度值之中选出的;e)在所述物体(30)上投影栅格;该栅格(24)位于该第一位置;f)用该摄像机拍摄被该投影的栅格照射的该物体(30)的图像;该物体图像包括被该投影的栅格照射的该物体的至少一个像素,并为该物体图像的所述该至少一个像素中的每个存储它的亮度值;g)对于每次位于c)的该不同的已知位置的栅格(24),重复步骤e)和f),以便对于该物体图像中该至少一个像素的每个获得至少三个亮度值;h)使用该物体(30)的图像中的像素的三个物体有效亮度值,计算该物体位置图像中该至少一个像素的每个的物体相位,其中这三个物体有效亮度值是在为该物体的图像中该至少一个像素的每个获得的该至少三个亮度值之中选出的;i)使用该对应的至少一个像素的该参照物体相位和物体相位,计算对于它的该至少一个像素的每一个的该物体(30)和该参照物体之间的高度差;j)使用对于每个所述像素的所述该物体(30)和该参照物体之间的高度差确定该物体(30)的凸纹,从而只需要在该栅格(24)的不同已知位置处拍摄的该参照物体的三个图像和该物体(30)的三个图像来测量该物体的凸纹。 | ||
地址 | 加拿大魁北克 |