| 发明名称 | 荧光测量装置 | ||
| 摘要 | 一种荧光测量装置布置成通过使用激发光源而基本同时测量在试样腔中的多个试样或者相同试样的多个点。该荧光测量装置有在激发光照射位置处的旋转试样台座(2)，多个通孔(2a)形成于旋转试样台座(2)的圆周上，且试样放置单元(3)可插入各个通孔(2a)中。通过使试样台座(2)相对于激发光照射位置运动，可以对多个试样进行荧光测量，同时不需要在试样腔(1)中更换试样。 | ||
| 申请公布号 | CN1556919A | 申请公布日期 | 2004.12.22 |
| 申请号 | CN03801077.1 | 申请日期 | 2003.03.24 |
| 申请人 | 大塚电子株式会社 | 发明人 | 松树义彦;藤村慎二 |
| 分类号 | G01N21/64 | 主分类号 | G01N21/64 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 范莉 |
| 主权项 | 1.一种荧光测量装置，其中，由激发光源发出的激发光照射在试样腔中的试样上，以便进行荧光测量，该荧光测量装置包括试样台座，该试样台座可相对于激发光照射位置运动，且该试样台座布置成使多个试样可布置在它上面。 | ||
| 地址 | 日本大阪 | ||