| 主权项 |
1.一种应用于光学轨迹导航元件之次画素位移量 侦测方法,系包含下列步骤: 撷取第一张影像与第二张影像; 选取复数个影像点作为计算参考点; 根据前述第一张影像与第二张影像计算出前述计 算参考点之泰勒展示的一阶偏微分函数之偏微分 量,以产生复数个二元一次方程式;以及 根据前述复数个二元一次方程式计算次画素位移 量。 2.如申请专利范围第1项所记载之应用于光学轨迹 导航元件之次画素位移量侦测方法,其中前述参考 点之泰勒展示的一阶偏微分函数为: 其中,Ir(x,y)为第一张影像之计算参考点之像素亮 度、Is(x,y)为第二张影像之计算参考点之像素亮度 、x为x方向位移量、y为y方向位移量、 为x偏微分量、以及 为y偏微分量。 3.如申请专利范围第2项所记载之应用于光学轨迹 导航元件之次画素位移量侦测方法,其中前述一阶 偏微分函数之x偏微分量为x方向之像素亮度的变 化量,可表示为: 4.如申请专利范围第2项所记载之应用于光学轨迹 导航元件之次画素位移量侦测方法,其中前述一阶 偏微分函数之y偏微分量为y方向之像素亮度的变 化量,可表示为: 5.如申请专利范围第1项所记载之应用于光学轨迹 导航元件之次画素位移量侦测方法,其中前述根据 前述复数个二元一次方程式计算次画素位移量步 骤中,系选择两条二元一次方程式计算次画素位移 量。 6.如申请专利范围第1项所记载之应用于光学轨迹 导航元件之次画素位移量侦测方法,其中前述根据 前述复数个二元一次方程式计算次画素位移量步 骤中,系选择两条以上之二元一次方程式计算出复 数组解,再求其平均値作为次画素位移量。 7.如申请专利范围第2项所记载之应用于光学轨迹 导航元件之次画素位移量侦测方法,其中前述计算 参考点系符合影像亮度的变化是单调性且亮度的 变化大于一临界値。 8.如申请专利范围第7项所记载之应用于光学轨迹 导航元件之次画素位移量侦测方法,其中前述计算 参考点系符合下列式子: (Ir(x+1,y)-Ir(x,y).(Ir(x,y)-Ir(x-1,y))>0 ∣Ir(x+1,y)-Ir(x,y)∣>Ith ∣Ir(x,y)-Ir(x-1,y)∣>Ith (Ir(x,y+1)-Ir(x,y)).(Ir(x,y)-Ir(x,y-1))>0 ∣Ir(x,y+1)-Ir(x,y)∣>Ith ∣Ir(x,y)-Ir(x,y-1)∣>Ith 其中,Ith为临界値。 9.如申请专利范围第2项或第7项所记载之应用于光 学轨迹导航元件之次画素位移量侦测方法,其中前 述计算参考点系分为三类计算参考点,第一类计算 参考点为x方向之像素亮度的变化量大于y方向之 像素亮度的变化量的一定比例,第二类计算参考点 为y方向之像素亮度的变化量大于x方向之像素亮 度的变化量的一定比例,以及第三类计算参考点为 不属于第一类计算参考点与第二类计算参考点之 其余计算参考点。 10.如申请专利范围第9项所记载之应用于光学轨迹 导航元件之次画素位移量侦测方法,其中前述第一 类计算参考点符合下式: ∣Ixr(x,y)∣>2│Iyr(x,y)│ 其中,│Ixr(x,y)│为x方向之像素亮度的变化量、而 │Iyr(x,y)│为y方向之像素亮度的变化量、以及 为倍数常数。 11.如申请专利范围第9项所记载之应用于光学轨迹 导航元件之次画素位移量侦测方法,其中前述第二 类计算参考点符合下式: │Iyr(x,y)│>2│Ixr(x,y)│ 其中,│Ixr(x,y)│为x方向之像素亮度的变化量、而 │Iyr(x,y)│为y方向之像素亮度的变化量、以及 为倍数常数。 12.如申请专利范围第9项所记载之应用于光学轨迹 导航元件之次画素位移量侦测方法,还包含下列步 骤: 将第一类计算参考点之二元一次方程式的系数相 加,并产生第一类二元一次方程式; 将第二类计算参考点之二元一次方程式的系数相 加,并产生第二类二元一次方程式; 将第三类计算参考点之二元一次方程式的系数相 加,并产生第三类二元一次方程式;以及 根据前述第一类二元一次方程式、第二类二元一 次方程式、以及第三类二元一次方程式求出前述 次画素位移量。 13.如申请专利范围第9项所记载之应用于光学轨迹 导航元件之次画素位移量侦测方法,还包含下列步 骤: 将第一类计算参考点之二元一次方程式的系数相 加,并产生第一类二元一次方程式; 将第二类计算参考点之二元一次方程式的系数相 加,并产生第二类二元一次方程式;以及 根据前述第一类二元一次方程式与第二类二元一 次方程式求出前述次画素位移量。 图式简单说明: 图1显示习知应用光学轨迹导航元件之次画素位移 量侦测方法之影像的例子。 图2为关联性値位置示意图。 图3为二次表面示意图。 图4所示为位置与亮度的关系图,其中横轴为x位置 、纵轴为亮度。 图5所示为本发明应用于光学轨迹导航元件之次画 素位移量侦测方法的流程图。 |
