发明名称 | 导电薄膜形成的方法 | ||
摘要 | 本发明系有关于一种导电薄膜形成的方法,其步骤包括提供一基材;形成剖面为倒角形状之一具第一图样之光阻层于该基材上;沈积至少一导电薄膜;以及剥离(lift–off)该光阻层,使该基材表面留下互补于第一图样之一第二图样导电薄膜层;其中该薄膜在沈积时即自然形成一倾斜(taper)角度,可提高后续制程的阶梯覆盖性并减少元件中孔洞的产生,而无须利用复杂之蚀刻制程。 | ||
申请公布号 | TW200428529 | 申请公布日期 | 2004.12.16 |
申请号 | TW092115887 | 申请日期 | 2003.06.11 |
申请人 | 财团法人工业技术研究院 | 发明人 | 孙裕昌;汤景萱;李启圣;许财源 |
分类号 | H01L21/3205 | 主分类号 | H01L21/3205 |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | |||
地址 | 新竹县竹东镇中兴路四段一九五号 |