| 摘要 |
一种万用型半导体检测机之共用测试机构，其检测机主要系将不同的半导体测试仪器整合在一系统上，以此单一测试系统而能涵盖所有的测试参数，该等测试仪器藉由一在测试机构上气动升降之测试座，接触在半导体元件之引线接脚上，终端与一个人电脑连接以接收并分析所量测之结果；其中，该测试座包含有一对承部以承接一可置换的测试头，该等承部上对称地形成有一榫销，测试头两端对应形成有一榫孔，两者成可置换地榫接在一起。如此，测试机构藉由可置换地测试头构造，能快速因应少量而多样化的半导体元件，机构可简单化及大幅降低成本，并且易于维修保养。 |
