积体电路分析装置及方法

摘要

一种积体电路分析装置，适用于找出在一积体电路之复数节点中时序不稳定并影响积体电路效能者，包括：一干扰装置、一探针机台、一测试器、一影像控制装置及一移动探针机台控制装置。上述探针机台具有一探针，且当此探针输出一干扰信号至复数节点之一者时，测试器侦测积体电路是否正常操作，并由影像控制装置中之一显示器显示对应节点之位置。