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用于对使用一预先配置冗余(PAR)架构之非挥发性记忆体进行自我修复之方法及装置。在一代表性实施例中，该非挥发性记忆体包括一区块、一记忆体子块、一具有大小等于该记忆体子块之大小的冗余子块、一连接到该区块的比较器(265)、一连接到该区块的故障锁存电路(270)以及一连接到该区块的熔丝(260)。该比较器(265)被配置以藉由比较期望资料与读出资料来识别一特定记忆体子块内的一故障。该故障锁存电路(270)被配置以决定该特定记忆体子块之一位址。该熔丝被配置以使用该冗余子块来取代该特定记忆体子块，藉以修复该非挥发性记忆体。 |
