发明名称 | 品质原因量度显示 | ||
摘要 | 本发明提供了一种品质原因量度显示,它通过产生一个标准的数字调制的RF发射机信号而形成。检测仪器用于测量发射机信号的一个总体品质量度,以及每一个发射机参数的单独影响。每一个测量的参数用于修正标准发射机信号,并运用品质量度运算法则来确定品质量度。单独参数品质量度与总体品质量度进行比较,以确定每一个参数对总体品质量度的影响百分比。操作者从影响百分比中可以知道,当总体品质量度超过极限时,在发射机信号中什么产生了问题。 | ||
申请公布号 | CN1180550C | 申请公布日期 | 2004.12.15 |
申请号 | CN01116490.5 | 申请日期 | 2001.04.28 |
申请人 | 特克特朗尼克公司 | 发明人 | L·F·古姆 |
分类号 | H04B17/00;H04B1/02 | 主分类号 | H04B17/00 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 杨松龄 |
主权项 | 1.一种品质原因量度显示方法,包括以下步骤:产生一个标准信号;通过多个测量的参数中的每一个单独修正该标准信号,以产生一个修正的信号;对每一个参数的修正信号运用一个总体品质量度运算法则,以产生对总体品质量度的单独度量值的图表;和将单独度量值与测算的总体品质量度比较,以产生每一个参数对测算的总体品质量度的影响的百分比,而用于显示。 | ||
地址 | 美国俄勒冈州 |