| 发明名称 | 测量晶体管控制的负载的电流消耗的电路ZH装置和方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及测量晶体管控制的负载、特别是电动机的电流消耗的电路布置，其中通过测量输出双极晶体管(T1)的控制电流(I<SUB>L2</SUB>)实现负载电流的检测。通过在内部测量电阻(R<SUB>I</SUB>)上的电压降检测控制电流(I<SUB>L2</SUB>)。由于控制电流显著小于负载电流，所以与串联于负载的测量电阻相比损耗功率是低的。此外可以取消控制设备的一个输入端，在该输入端上施加外部的测量电压。 | ||
| 申请公布号 | CN1180267C | 申请公布日期 | 2004.12.15 |
| 申请号 | CN01808288.2 | 申请日期 | 2001.03.30 |
| 申请人 | 富士通西门子电脑股份有限公司 | 发明人 | P·布施 |
| 分类号 | G01R19/00;G01R31/34 | 主分类号 | G01R19/00 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 郑立柱;张志醒 |
| 主权项 | 1.测量晶体管控制的负载的电流消耗的电路装置，具有-一个输出双极性晶体管(T1)，其作为电压跟随器连接，-一个控制设备(13)用于控制输出晶体管(T1)的基极，该控制设备包括：-一个测量电阻(RI)，其处在同输出晶体管(T1)的基极-集电极区间的并联支路中，和-一个具有计算装置(16)的测量装置，其检测测量电阻(RI)上的电压降。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||