| 发明名称 | 用于电路板测试装置的探针 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于电路板测试装置的探针，以及相关的导引装置和电路板测试装置。该探针至少包含一细针以及一套筒，细针以可移动的方式设置在套筒内，其伸出于套筒的部分的长度至少为10mm，甚至超过20mm。在本发明的第一实施例中，细针伸出于套管的部分为渐缩至一接触端的圆锥体。根据本发明的用于电路板测试装置的探针，可以实现高密度的接触，同时探针也有弹性地工作。 | ||
| 申请公布号 | CN1180264C | 申请公布日期 | 2004.12.15 |
| 申请号 | CN00814899.6 | 申请日期 | 2000.09.05 |
| 申请人 | ATG测试体系两合公司 | 发明人 | 波恩德·奥特;曼弗雷德·普罗科普 |
| 分类号 | G01R1/067;G01R1/073 | 主分类号 | G01R1/067 |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王维宁 |
| 主权项 | 1、一种用于电路板测试装置的探针，该探针至少包含：一细针(2)，具有一外壁；一套筒(3)，具有一套筒内壁；所述细针(2)的外壁与套筒内壁接触并以可移动的方式装设在所述套筒(3)内，且所述细针(2)伸出所述套筒(3)的部分的长度大于10mm；细针具有最大的直径(d2)为0.30mm，所述细针(2)从伸出所述套筒(3)的部分开始为一截面逐渐变细的圆锥体，并形成一接触端(7)；以及一弹性组件(4)，设置于所述套筒(3)内，可使该细针(2)产生运动。 | ||
| 地址 | 德国韦尔特海姆 | ||