首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 HIGH PERFORMANCE PROBE SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFERS
摘要
申请公布号 KR20040104706(A) 申请公布日期 2004.12.10
申请号 KR20047017779 申请日期 2003.05.07
申请人 发明人
分类号 G01R31/26;H01L21/66;G01R1/073;G01R3/00 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com