Integriertes Selbsttestsystem und -verfahren

摘要

Es wird ein externes Testgerät zum Simulieren eines internen BIST-Tests verwendet, wodurch das Erfassen oder Generieren ausführlicher Testergebnisse möglich ist. Durch Simulieren der BIST-Testsequenz in Echtzeit während des Tests kann der externe Tester einen Ausgang von dem BIST überwachen und die exakte Stelle von Fehlern bestimmen, sobald sie auftreten. Der externe Tester kann eine Bitfehlerkarte generieren, die anzeigt, ob jede Speicherstelle den BIST-Test bestanden hat oder nicht.