| 发明名称 |
Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von Defekten auf einer Platte in einem Plattenlaufwerk |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE19916104(B4) |
申请公布日期 |
2004.12.09 |
| 申请号 |
DE19991016104 |
申请日期 |
1999.04.09 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
BANG, HO-YUL |
| 分类号 |
G11B25/04;G11B5/00;G11B19/04;G11B19/14;G11B20/18;G11B27/36;(IPC1-7):G11B5/012 |
主分类号 |
G11B25/04 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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