发明名称 Vorrichtung zum Ermitteln der Lichtleistung eines Lichtstrahles und Scanmikroskop
摘要 Ein Scanmikroskop mit einer Vorrichtung zum Ermitteln von Eigenschaften eines Lichtstrahles, die ein Mittel zum Abspalten eines Messstrahles von dem Lichtstrahl und mindestens einen Detektor beinhaltet, der den Messstrahl zumindest teilweise empfängt, wobei im Strahlengang des Messstrahles ein Polarisationsbeeinflussungsmittel vorgesehen ist, ist offenbart. Das Scanmikroskop ist dadurch gekennzeichnet, dass ein Verarbeitungsmodul vorgesehen ist, das in Abhängigkeit von zumindest einer mit dem Detektor gemessenen Lichtleistung die Lichtleistung und/oder die Polarisation des Lichtstrahles steuert bzw. regelt, und dass als Stellglied eines Regelkreises ein weiteres Polarisationsbeeinflussungsmittel im Strahlengang des Lichtstrahles angeordnet ist.
申请公布号 DE10324478(B3) 申请公布日期 2004.12.09
申请号 DE20031024478 申请日期 2003.05.30
申请人 LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH 发明人 BOEHM, INGO;SCHREIBER, FRANK
分类号 G01J3/14;G01J4/00;G02B21/00;(IPC1-7):G02B21/06;G02B26/02 主分类号 G01J3/14
代理机构 代理人
主权项
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