发明名称 |
INTEGRATED CIRCUIT WITH TEST CIRCUIT |
摘要 |
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申请公布号 |
EP1483596(A1) |
申请公布日期 |
2004.12.08 |
申请号 |
EP20030702959 |
申请日期 |
2003.02.26 |
申请人 |
NXP B.V.;KONINKL PHILIPS ELECTRONICS NV |
发明人 |
HAPKE, FRIEDRICH |
分类号 |
G01R31/28;G01R31/3181;G01R31/3183;G01R31/3185;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/318;G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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