Testable integrated circuit,申请号GB20040024766-传众专利搜索

发明名称	Testable integrated circuit
摘要
申请公布号	GB0424766(D0)	申请公布日期	2004.12.08
申请号	GB20040024766	申请日期	2004.11.10
申请人	KONINKL PHILIPS ELECTRONICS NV	发明人
分类号	G01R31/3185	主分类号	G01R31/3185
代理机构		代理人
主权项
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