| 主权项 |
1.一种巨集测试电路,其位于大型积体电路中,包括一测试列,该测试列系与复数个巨集相连,且资料可独立于一般动作电路而供应;一选择电路,经由此测试列,用于选择一测试巨集;及一资料持有电路,用于持有测试资料,以送至该测试列,其中,由相同外部端子所供应之不同脉冲周期的资料,系暂时储存于不同之资料持有电路,而此储存资料系平行送入该测试列,且位于大型积体电路中的选择巨集测试系独立于一般电路。2.一种巨集测试电路,其位于大型积体电路中,包括一测试列,该测试列系与复数个巨集相连,且资料可独立于一般动作电路而供应;一端子,用于选择一测试巨集;及一资料持有电路,用于持有测试资料,以送至该测试列,其中,由相同外部端子所供应之不同脉冲周期的资料,系暂时储存于不同之资料持有电路,而此储存资料系平行送入该测试列,且位于大型积体电路中的选择巨集测试系独立于一般电路。3.如申请专利范围第1项所述之测试电路,其中,该测试列系连接于一用于持有先前之値的电路,直到需要之测试资料储存于此资料持有电路,且此资料持有电路持有一连接于该测试列之値,一直到一资料更新计时时间信号供给至该测试列,以输入相同的値。4.如申请专利范围第1项所述之测试电路,其中,一部份的测试列系直接连接到外部端子,而不经由该资料持有电路,利用这样的方法,资料可以直接由该外部端子设定至巨集端子,以及该测试列的其它部份,资料系由该资料持有电路设定进其中,且该测试别的其它部份系用于完成测试。5.如申请专利范围第1项所述之测试电路,其中,该资料持有电路至少有一个具通过输入资料到输出资料的模式;一部份的测试列于此通过输入资料到输出资料的模式下,系由该外部端子直接连接到该资料持有电路,利用这样的方法,资料可以直接由该外部端子设定至巨集端子,以及该测试列的其它部份,资料系由该资料持有电路设定进其中,且该测试列的其它部份系用于完成测试。6.如申请专利范围第1项所述之测试电路,更包括一测试输出列,以及一输出持有电路,用于暂时地从该测试输出列持有输出,其中,于该输出持有电路中,被持有之资料可于不同脉冲周期,由相同的输出端子观察之。7.如申请专利范围第6项所述之测试电路,其中一部份的测试列系直接连接到外部端子,而不经由该输出持有电路且可直接观察到巨集输出端之资料。8.如申请专利范围第6项所述之测试电路,其中,一部份的测试列系直接连接到外部端子,而不经由该输出持有电路,但经一选择器,并可直接观察到巨集输出端之资料。图式简单说明:第一图显示习知之巨集测试技术的一个例子;第二图显示习知之巨集测试技术的其它例子;第三图为本发明之第一实施例;第四图为本发明之第二实施例;第五图为第四图中所显示的实施例之控制波形的一个例子;第六图为资料连续输入/输出之控制波形的一个例子;第七图显示一测试巨集之测试资料图表;及第八图显示利用第三图之测试电路,经由外部端子输入/输出测试资料所做测试之图表。 |
