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发明名称 MEMORY DEVICE PERFORMING REPAIR PROCESS USING EPROM CAPABLE OF PERFORMING TEST AND REPAIR PROCESSES USING ONE TEST DEVICE
摘要
申请公布号 KR100461333(B1) 申请公布日期 2004.12.02
申请号 KR19970028711 申请日期 1997.06.28
申请人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC. 发明人 RYU, MYEONG SEON
分类号 G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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